AUTONOMNÍ TESTOVATELNOST

Pro rozsáhlé autonomně pracující systémy (počítače, procesorové desky, integrované obvody VLSI atp.) lze s výhodou použít metodu autonomního testování.

Princip metody spočívá v tom, že součástí obvodu je i na jedné straně generování testovací posloupnosti a na druhé straně zpracování odezev. Vlastní realizace se liší podle toho zda jde o testování obecného logického obvodu nebo paměťového obvodu. V prvém případě lze jako zdroj testu použít generátor pseudonáhodné posloupnosti, odezvy testu se nejprve komprimují a pak porovnávají s očekávanou odezvou. Výsledkem testování je jednobitová informace obvod je dobrý/špatný (GO/NO_GO). V případě testování pamětí je odlišné generování vstupních vektorů, vhodných pro testování poruch typu citlivost na vzorek.

Příklady používaných programových prostředků při návrhu IO:

	typ obvodu použité nástroje Mentor Graphics paměťový MBIST logický LBIST

Zkušenosti s využitím metody autonomní testovatelnosti máme pro testování některých bloků integrovaných obvodů, např. paměťového modulu RAM.